Historique
La technologie innovante du Global Process Control (GPC) développée GPC SYSTEM (brevets) est une extension multidimensionnelle de la SPC (Statistical Process Control) inventée en 1935 par le statisticien Walter A Shewhart. La SPC a fait considérablement progresser la qualité et la productivité industrielle.
C’est grâce à la SPC, à partir des années 50, que les firmes japonaises se sont imposées mondialement dans les domaines de l’électronique (Sony, Canon, JVC ...) et de l’automobile (Toyota, Nissan, Mitsubishi…). La France (comme Europe et USA) a attendu les années 80-90 pour l'adopter dans le cadre de la « démarche qualité » et faire une mise à niveau de ses méthodes de production.
- Dès lors, elle poursuit son développement dans l’automobile, la métallurgie.
La technologie innovante du Global Process Control.
Daniel Lafaye de Micheaux
Fondateur & CEODaniel Lafaye de Micheaux, statisticien universitaire, a conçu la technologie GPC comme extension multidimensionnelle de la SPC : Le GPC exploite les interactions entres les grandeurs collectées au lieu de considérer ces grandeurs séparément comme le font les cartes de contrôle SPC.
Ceci est devenu possible par la puissance de calcul des ordinateurs dont ne disposait pas W.A. Shewhart et par l’expérience en statistique multidimensionnelle de D. Lafaye de Micheaux.
Depuis 2003, la technologie GPC a déjà été utilisée dans des domaines très variés (semi-conducteur, automobile, plasturgie, métallurgie, …).
“La méthode GPC proposée par M. Lafaye de Micheaux me semble posséder les avantages des techniques multivariées tout en évitant les écueils ; elle ne se contente pas de déclencher des alertes, mais elle permet de connaître immédiatement la cause probable de la dérive du processus… La méthode GPC me paraît répondre de manière appropriée à un besoin qui ne pourra qu’aller croissant dans les années à venir.”
Jacques DEMONSANT
“…le GPC développé par Mr Daniel Lafaye de Micheaux permet d’aller encore plus loin en identifiant la signature des hors contrôle par un mode d’apprentissage permanent.”
François PASQUALINI
“…le suivi par méthodes multivariées me semble très intéressant et les récents développements me confortent en ce sens. D’autre part, l’ergonomie des résultats est en phase avec le besoin de nos opérationnels.”
David LOPES
“…mon point de vue sur la méthode GPC : cette méthode me parait pertinente pour ce type de processus, car elle constitue une approche multidimensionnelle véritablement dans la logique des concept de base de la MSP… Dans ce cadre, la méthode GPC constitue un ensemble cohérent d’indicateurs pour détecter et décrire les effets des anomalies de fonctionnement du procédé.”
Georges KOPFF
“Pour un processus industriel, la méthode GPC que vous avez développée et brevetée présente à mon sens les deux avantages suivants :
– détecter les diverses causes de défectuosité,
– permettre leur identification précise (et non se borner à signaler la présence d’une défectuosité non identifiable).
Votre méthode de pilotage de processus permet un retour d’expérience tout à fait intéressant : il est possible de prévenir la réapparition d’un défaut déjà observé par la simple création d’une carte spécifique à ce défaut, action impossible avec les cartes de contrôle classiques.”
Dominique VAILHEN
“…l’industrie des semi-conducteurs et ses applications dérivées, dans laquelle Si Automation évolue aujourd’hui dans un contexte international, représente d’ores et déjà un champ d’investigations privilégiées pour GPC.”
Richard MOUSTIES
Notre équipe
Tester, évaluer notre technologie GPC.